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IC測(cè)試治具

PGA手動(dòng)測(cè)試治具
、適合各種封裝形式的手動(dòng)自動(dòng)測(cè)試治具。

、適合于CSP、BGA、mBGA、DIP、PGA、ZIP、PLCCPQFP、SQIPSOIC、QFP、MLF、QFNFBP等各類IC的測(cè)試。

、測(cè)試間距0.30mm。

、可根據(jù)需求定制與各類Handler配合的自動(dòng)測(cè)試治具。

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