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IC測試治具

QFP手動測試治具
、適合各種封裝形式的手動自動測試治具。

、適合于CSP、BGA、mBGA、DIP、PGAZIP、PLCCPQFP、SQIP、SOICQFP、MLF、QFN、FBP等各類IC的測試。

、測試間距0.30mm

、可根據需求定制與各類Handler配合的自動測試治具。

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